今天是:    
     
     
材料结构与形貌分析表征平台
来源:        上传时间:2015-01-16

本平台目前拥有日立S-4800冷场发射扫描电子显微镜、Park NX10原子力显微镜、德国布鲁克D8 advance X射线衍射仪与配套制样设备、X射线能谱仪、英国Malvern公司激光粒度分析仪、美国Veeco公司台阶仪等大型分析测试仪器。

 

仪器名称:NX10原子力显微镜

生产厂商:Park Systems

主要用途:

1)主要用于测量物质的表面形貌、表面电势、摩擦力、粘弹力和I/V曲线等表面性质,是表征材料表面性质强有力的新型仪器。

2)具有纳米操纵和电化学测量等功能。

技术参数:

1) XYZ方向扫描范围50μm*50μm*15μm

2) 定位检测噪音:<0 .3nm(带宽:1khz)

3) 分辨率:原子级

功能特色:

1)XY柔性导引扫描器(50μm*50μm的扫描范围)

2)告诉Z轴扫描器,扫描范围大15μm

3)低噪声位置传感器

4)电工XY轴样品台

5)自动步进扫描

6)可更换式样品架

7)高级扫描探针显微镜模式和选项扩展槽

8)直式同轴高倍显微镜,集成LED照明

9)简便的燕尾式头部装卸

10)严格校准的Z轴移动和聚焦系统

 

规格型号: S-4800扫描电子显微镜

生产厂商: 日本Hitachi

主要用途

1)样品表面高倍率放大成像,用来观察样品的表面形态和组织结构;

2)进行背散射成像,进行材料的成份的鉴定确定;

3)附带的X射线能谱仪能够进行微区成分鉴定;

性能参数:

1)二次电子分辨率 1.0nm (15 kV);2.0 nm (1 kV);

2)背散射电子分辨率 3.0nm (15kV);

3)加速电压 0.5~30kV(0.1KV/步,可变);

4)放大倍率 X20~ X800,000;

5)EDX半定量分析(B~U元素);

6)X: 0~50mm, Y: 0~50mm, Z:1.5~30mm, T: -5~+70°, R: 360°。

功能特色

1) 微区成分分析;

2)大倍率二次电子图像;

3)背散射电子图像;

样品要求 :干燥不含挥发物质的无磁性固体粉末或块体

 

仪器名称:D8 Advance多功能X射线衍射仪

生产厂商:德国Bruker AXS

主要用途

1)物相定性与定量分析

2)晶体点阵常数精确测定

3)结晶度测定

4)晶粒大小和微观应力测量

5)粉晶法晶体结构分析

6)高低温相变研究

7)薄膜掠入射分析

8)样品环境保护衍射分析

性能参数:

1)X射线发生器:3KW;

2)测角范围:-110°~168°;

3)测角重现性:±0.0001° ;

功能特色

1)双发生器,双测角仪(q-q和q-2q),方便附件转换

2)多种样品台和单色器与探测器能组合多种衍射几何,满足不同样品要求。

3)Ge单色器提供纯Ka1光,提高谱图分辨率

4)多层膜反射镜提供高强度平行光

5)一维探测器提高接收强度几十倍

6)Si(Li)探测器能量分辨率高,免用滤波片,提供低背景谱图

7)低温-高温区间:-180~1600°C

样品要求:多晶体

 

仪器型号: Mastersizer 3000激光粒度分析仪

仪器厂商:英国Malvern公司

主要用途:能检测0.015~3500μm范围内液体、固体和乳化液的粒度分析,广泛适用于材料、化工、地质、冶金等行业。

性能参数:

1)红光光源:最大值(M) 4mW He-Ne,632.8nm;

2)蓝光光源:最大值(M) 10mW LED, 470nm;

3)有效焦距:300mm;

4)对光:自动;

5)角度范围:0.015~144度;

6)数据采集速率:10000次/秒;
7)典型测量时间:10秒/样 ;
8)粒度测量范围:0.01 - 3500 µm;
9)粒度分级数目:100 (用户可调);

 

仪器型号: Dektak150台阶仪

仪器厂商:美国Veeco公司

主要用途:主要用于薄膜厚度,表面形貌,应力,平整度等精密测量,广发应用于光学,太阳能,半导体,生命科学,材料科学等领域。

性能参数:

1)探针直径:2.5 μm;

2)探针压力:3 mg;

3)测量范围:10~66500 nm;

4)垂直方向精度:1 Å;

5)测量重复性:6Å;
6)单次扫描最大数据点:60000个;

7)样品台:150mm,X-Y-θ手动调节;

联系地址:湖北省襄阳市隆中路296号,邮编:441053
联系电话:0710-3590894 传真:0710-3590894