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器件电性能研究与测试平台
来源: admin        上传时间:2015-01-20

本平台有Radiant铁电测试系统、Keithley半导体特性测试系统、Agilent公司网络分析仪和阻抗分析仪等分析测试设备,可对介电、铁电、半导体材料与器件电学特性进行分析与表征。

 

仪器型号:美国Keithley 4200-SCS型半导体特性分析系统

主要用途:4200-SCS半导体特征分析系统用于实验室级的直流和脉冲微纳器件特征分析、实时绘图、高精度和亚飞安级分辨率的分析操作,可广泛应用于各类新材料、薄膜材料、异质结构等光电子材料及器件的电学性质和物理特性的研究。

性能参数: 3个高分辨率高功率源测量单元,

电流测量范围0.1fA-1A,电流测量精度10fA;

SMU的最大电压源:210V,

SMU的电压源最小分辨率:5mV,电压测量精度100mV

电流前置放大器单元,最小电流分辨率到0.1fA,

电容—电压测量单元,扫频范围1KHz-10MHz,偏置电压±30V (差分模式下为±60V),精度0.1%。

脉冲电流-电压测量单元:双通道,可以同时对栅和漏加脉冲电压。

脉冲发生器频率(最小频率范围):50MHz-1Hz。在脉冲发生器模式下,最小脉宽为10ns@10V,50ns@40V,可以输出任意波形;

脉冲I-V模式下,最小脉宽为60ns@10V,140ns@40V。

电流测量精度:0.25%+100μA。

 

仪器型号:美国Agilent公司E5071C ENA网络分析仪

主要用途:网络分析仪主要用于测试天线、线材、滤波器、信号放大器等器件的传输、阻抗、驻波等指标。E5071C网络分析仪具有同类产品中最高的射频性能和最快的速度,并具有宽频率范围和全面的功能。

性能参数:频率范围:300 kHz至14GHz(带有偏置T型接头)

扫描速度:9.6微秒/点

迹线噪声:0.001 dB rms

集成的2、3和4端口,带有平衡测量能力

夹具嵌入/反嵌和端口特性阻抗转换

用于变频设备的频率偏置模式

内置Visual Basic . for Applications(VBA)

宽动态范围:测试端口上的动态范围 > 123 dB

 

仪器型号:美国Radiant Technologies公司Premier II-100V铁电参数测试仪

主要用途:主要用于铁电材料的电滞回线、I-V特性、开关特性和疲劳特性的测试与表征。

性能参数:

1.主机测试电压:0~±99.99V

2.电滞回线测试:测量频率:0.03Hz~100kHz,

使用0~±10V电压时,最高频率为100KHZ,

使用±10~±99.99V时,最高频率为30KHZ;

电荷测量解析度范围: 0.80fC~5.26mC;

材料测量面积解析度范围:0.080µm2 ~52.6cm2;

3.漏电流测试:分辨率:1pA、最大漏电流测试:12.5mA;

4.疲劳测试:最大疲劳测量频率: 1MHz

最小脉冲宽度:0.5us

5. 高压电源放大器

电压输出范围:0~ ±10 kV直流或交流峰值

电流输出范围:0~ ±2mA直流或交流峰值

 

安捷伦阻抗分析仪

主要用途:可对各种电子器件及电子材料和非电子材料的精密阻抗进行测量,可精确分析测量材料的介电常数、导电率和C-V特性等。

性能参数:

1)频率范围:20 ~ 120 MHz;

2)阻抗测量范围:25 mΩ ~ 40 MΩ 宽阻抗测量范围;

3)内置直流偏置源:0 ~ ±40 V,0 ~ ±100 mA;

4)数据分析功能:等效电路分析、极限线测试;

5)被测材料尺寸:厚度: ≤ 10 mm,直径: 10-56 mm

联系地址:湖北省襄阳市隆中路296号,邮编:441053
联系电话:0710-3590894 传真:0710-3590894